Εμφάνιση ενός Νέου - DO NOT DELETE

Best Paper Award CAS 2018 απονεμήθηκε στο Eργαστήριο Ηλεκτρονικής της Σχολής Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών του Πολυτεχνείου Κρήτης, στο πλαίσιο του διεθνούς συνεδρίου CAS 2018, για την εργασία:

'Modeling of High Total Ionizing Dose (TID) Effects for Enclosed Layout Transistors in 65 nm Bulk CMOS',
Aristeidis Nikolaou ¹, Matthias Bucher ¹ Nikolaos Makris¹, Alexia Papadopoulou ¹, Loukas Chevas¹, Giulio Borghello^2,4, Henri D. Koch^3,4, Federico Faccio ⁴

που υλοποιήθηκε υπό την επίβλεψη του Αναπληρωτή Καθηγητή Ματτίας Μπούχερ.

Την εργασία παρουσίασε o Υποψήφιος Διδάκτορας ΗΜΜΥ, κ. Άρης Νικολάου, στο πλαίσιο του Συνεδρίου CAS 2018, 41st IEEE International Semiconductor Conference, Sinaia, Romania, Oct. 10-12, 2018, όπου έλαβε το 'Best Paper Award', στην ενότητα 'Modelling'. Η εργασία έγινε σε συνεργασία της ομάδας του Αναπλ. Καθ. Μπούχερ με ερευνητές στο CERN, (Γενεύη, Ελβετίας).
 

¹ School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece
² DPIA, Università degli Studi di Udine, Udine, Italy
³ SEMi, Université de Mons, Mons, Belgium
⁴ EP Dept., CERN, Geneva, Switzerland